活学活用 LTspice 进行电路设计 — 用直流扫描分析法 DC sweep 验证晶体管特性

在上篇《活学活用 LTspice 进行电路设计 — 简单五步绘制正确电路图》中，我们分享了只用简单五步绘制电路图的方法，展示了如何通过读取 JIG 电路来轻松模拟一个开关稳压器。本文将介绍如何使用预先准备好的模拟文件进行 DC sweep 直流扫描分析。

此处以 Educational 文件夹为例，使用该文件夹内预先准备好的模拟文件进行处理。单击电脑上 “我的文档”，依次顺序点击 “LTspiceXVII”、“examples”，再到 “Educational”。在 Educational 文件夹内打开名为“curvetrace.asc” 的文件，可以得到如下图 (图1) 所示的双极晶体管 2N222 的电路图。以下我们将使用这个文件来进行 DC sweep 直流扫描分析，DC sweep 是通过改变器件的直流值来模拟其特性。

如上图 (图1) 所示，左边红色下划线 ① 为集电极与发射极电压 V1 的设置，这意味着 V1 将从 0V 至15V 范围内以 10mv 步长进行扫描。右键单击文本以打开 “编辑模拟” 命令，选择 1st Source 以检查 V1 的配置，如下图（图2）红框部分所示。 

上图 (图1) 所示中的蓝色下划线 ② 则为流经基极的电流I1的设置，这意味着 I1 将以 20uA 至 100uA 的 20uA 步长变化。通过在 Edit Simulation Command 中选择 2nd Source 可以检查 I1 的配置，如下图 (图2) 蓝框部分所示。

执行 RUN 后将得到如下图 (图3) 所示的 I-V 曲线图。使用这个文件稍作修改，还可以检查别的晶体管的 I-V 特性。此外，也可以将电流源 I1 更改为电压源以检查 FET 的 I-V 特性。

本文介绍了如何用直流扫描分析法 DC sweep 验证晶体管特性。欲了解更多技术细节和 LTspice 相关操作，您可以点击下方「联系我们」，提交您的需求，骏龙科技公司愿意为您提供更详细的技术解答。

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